Sicondu i rapporti di i media, u Dipartimentu di l'Energia di i Stati Uniti (DOE) hà publicatu recentemente u so terzu rapportu di affidabilità nantu à i drive LED basatu nantu à teste di vita accelerata à longu andà. I circadori di u Dipartimentu di l'Energia Solid State Lighting (SSL) di u Dipartimentu di l'Energia di i Stati Uniti crede chì l'ultimi risultati cunfirmanu chì u metudu Accelerated Stress Testing (AST) hà dimustratu un bonu rendimentu in diverse cundizioni duri. Inoltre, i risultati di a prova è i fatturi di fallimentu misurati ponu informà i sviluppatori di driver di strategie pertinenti per migliurà ulteriormente l'affidabilità.
Comu hè cunnisciutu, i driver LED, cum'è i cumpunenti LED stessi, sò cruciali per una qualità di luce ottima. Un disignu di cunduttore adattatu pò eliminà u sfarfallu è furnisce una illuminazione uniforme. È u cunduttore hè ancu u cumpunente più prubabile in luci LED o apparecchi di illuminazione per malfunziona. Dopu avè realizatu l'impurtanza di i cunduttori, DOE hà iniziatu un prughjettu di teste di cunduttore à longu andà in 2017. Stu prughjettu implica unicu canali è cunduttori multi-canale, chì ponu esse aduprati per a riparazione di i dispositi cum'è i solchi di u tettu.
U Dipartimentu di l'Energia di i Stati Uniti hà publicatu prima dui rapporti nantu à u prucessu di teste è u prugressu, è avà u terzu rapportu di dati di prova hè statu liberatu, chì copre i risultati di teste di produttu in esecuzione in cundizioni AST per 6000-7500 ore.
In fatti, l'industria ùn hà micca tantu tempu per pruvà unità in ambienti operativi normali per parechji anni. À u cuntrariu, u Dipartimentu di l'Energia di i Stati Uniti è u so cuntrattu RTI International anu pruvatu l'unità in ciò chì chjamanu un ambiente 7575 - cù l'umidità interna è a temperatura constantemente mantenite à 75 ° C. Questa prova implica duie tappe di teste di cunduttore, indipendentemente da u canale. U disignu di una sola tappa costa menu, ma ùn manca un circuitu separatu chì prima converte AC à DC è poi regula u currente, chì hè unicu à u disignu in dui fasi.

U rapportu di u Dipartimentu di l'Energia di i Stati Uniti dichjara chì in teste realizate nantu à 11 unità diverse, tutte e unità sò state eseguite per 1000 ore in un ambiente 7575. Quandu l'unità si trova in a stanza ambientale, a carica LED cunnessa à l'unità si trova in cundizioni ambientali esterne, cusì l'ambiente AST affetta solu l'unità. DOE ùn hà micca ligatu u runtime in cundizioni AST à u runtime in cundizioni normali. U primu batch di i dispusitivi hà fiascatu dopu à correre per 1250 ore, ancu s'è certi dispusitivi sò sempre in funziunamentu. Dopu a prova di 4800 ore, 64% di i dispositi fiascatu. Tuttavia, cunziddi l'ambiente di prova duru, questi risultati sò digià assai boni.
I circadori anu truvatu chì a maiò parte di i difetti si trovanu in u primu stadiu di u driver, in particulare in i circuiti di suppressione di l'interferenza elettromagnetica (EMI). In i dui fasi di u driver, i MOSFET anu ancu difetti. In più di l'indicazione di e zone cum'è PFC è MOSFET chì ponu migliurà u disignu di u driver, questu AST indica ancu chì i difetti sò generalmente previsti in basa di u monitoraghju di u performance di u driver. Per esempiu, a monitorizazione di u fattore di putenza è di a corrente di surge pò detectà i primi difetti in anticipu. Un aumentu di u lampamentu indica ancu chì un malfunzionamentu hè imminenti.
Per un bellu pezzu, u prugramma SSL di DOE hà realizatu teste è ricerche impurtanti in u campu SSL, cumprese a prova di u produttu di scenariu di l'applicazione sottu u prughjettu Gateway è a prova di rendiment di u produttu cummerciale sottu u prughjettu Caliper.